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中析研究所檢測(cè)中心

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010-82491398

報(bào)告問(wèn)題解答:

010-8646-0567

檢測(cè)領(lǐng)域:

成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。

穩(wěn)壓二極管檢測(cè)

發(fā)布時(shí)間:2025-04-29

關(guān)鍵詞:穩(wěn)壓二極管項(xiàng)檢測(cè)報(bào)價(jià),穩(wěn)壓二極管檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),穩(wěn)壓二極管檢測(cè)方法

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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所

文章簡(jiǎn)介:

穩(wěn)壓二極管作為電子電路中的關(guān)鍵保護(hù)元件,其性能參數(shù)直接影響系統(tǒng)可靠性。本文依據(jù)IEC60747、JESD22等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)體系,系統(tǒng)闡述反向擊穿電壓、動(dòng)態(tài)阻抗、漏電流等核心參數(shù)的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)方案,涵蓋測(cè)試原理、設(shè)備選型及誤差控制要點(diǎn),為工程驗(yàn)收與失效分析提供標(biāo)準(zhǔn)化操作指引。
點(diǎn)擊咨詢

因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

穩(wěn)壓二極管的核心檢測(cè)項(xiàng)目包含五大類:

反向擊穿電壓(Vz):在額定溫度條件下測(cè)量器件進(jìn)入穩(wěn)壓區(qū)的最小擊穿電壓值

動(dòng)態(tài)阻抗(Zzt):測(cè)試擊穿區(qū)電壓變化量與電流變化量的比值

反向漏電流(Ir):施加75%額定Vz電壓時(shí)的泄漏電流測(cè)量

溫度系數(shù)(TC):在-55℃至+150℃范圍內(nèi)監(jiān)測(cè)Vz隨溫度變化的穩(wěn)定性

功率耐受性:通過(guò)脈沖寬度1ms的10倍額定功率沖擊測(cè)試驗(yàn)證器件可靠性

檢測(cè)范圍

分類維度具體類型
工作原理齊納二極管、雪崩二極管、TVS瞬態(tài)抑制二極管
封裝形式SOD-123/323/523表面貼裝、DO-41/DO-15軸向引線封裝
電壓規(guī)格3.3V至200V常規(guī)型號(hào)及特殊定制高壓器件
功率等級(jí)500mW至5W標(biāo)準(zhǔn)品系及大功率工業(yè)級(jí)產(chǎn)品

檢測(cè)方法

反向擊穿電壓測(cè)試

采用可編程直流電源配合6位半數(shù)字萬(wàn)用表搭建測(cè)試平臺(tái):

1. 將器件置于25±1℃恒溫環(huán)境

2. 以1mA步進(jìn)施加反向電流至器件進(jìn)入穩(wěn)壓區(qū)

3. 記錄電流達(dá)到標(biāo)稱測(cè)試值(通常為5mA)時(shí)的電壓讀數(shù)

4. 重復(fù)測(cè)量三次取算術(shù)平均值

動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)量

基于交流小信號(hào)分析法:

1. 在直流偏置點(diǎn)疊加1kHz正弦波信號(hào)(ΔI=0.1mA)

2. 使用鎖相放大器提取交流電壓分量

3. 按Zzt=ΔV/ΔI公式計(jì)算動(dòng)態(tài)阻抗

4. 驗(yàn)證不同偏置電流下的阻抗線性度

溫度特性測(cè)試

采用高低溫試驗(yàn)箱配合四線法測(cè)量:

1. 在-55℃、25℃、+150℃三個(gè)特征溫度點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)定

2. 保持測(cè)試電流恒定(±0.05%精度)

3. 計(jì)算溫度系數(shù)TC=(Vz2-Vz1)/(T2-T1)/Vz25×10^6(ppm/℃)

4. 繪制Vz-T特性曲線并分析非線性度

檢測(cè)儀器

儀器類型技術(shù)參數(shù)要求
高精度數(shù)字源表分辨率≤1μV/10nA, 四象限輸出能力
熱流式高低溫箱控溫精度±0.3℃, 變溫速率≥5℃/min
LCR數(shù)字電橋測(cè)試頻率1kHz-1MHz, 基本精度0.05%
脈沖功率發(fā)生器
紅外熱成像儀空間分辨率≤25μm, NETD<50mK@25℃
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀最小電流分辨率100fA, SMU模塊集成度≥4通道
浪涌測(cè)試系統(tǒng)符合IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn), 8/20μs波形生成能力

注:所有儀器均需通過(guò)CNAS認(rèn)可的計(jì)量機(jī)構(gòu)年度校準(zhǔn),測(cè)量不確定度應(yīng)滿足ISO/IEC17025要求。

檢測(cè)流程

1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件

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