因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

光纖測(cè)試儀的核心檢測(cè)項(xiàng)目包括：

插入損耗測(cè)試：測(cè)量光信號(hào)通過(guò)連接器、熔接點(diǎn)或整段光纖的衰減值（dB），單模光纖要求≤0.3dB/連接點(diǎn)

回波損耗測(cè)試：評(píng)估反射信號(hào)強(qiáng)度（≥45dB為合格），采用APC端面需滿足≥60dB標(biāo)準(zhǔn)

長(zhǎng)度測(cè)量：基于光時(shí)域反射原理實(shí)現(xiàn)±1m精度定位

偏振相關(guān)損耗（PDL）：高速光模塊鏈路要求PDL≤0.2dB

端面潔凈度檢測(cè)：依據(jù)IEC 61300-3-35判定污染等級(jí)

檢測(cè)范圍

光纖測(cè)試儀適用于以下場(chǎng)景的質(zhì)量驗(yàn)證：

通信網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)：FTTH接入網(wǎng)/5G前傳網(wǎng)/長(zhǎng)途干線網(wǎng)的光纖鏈路驗(yàn)收

數(shù)據(jù)中心互連：40G/100G/400G高速光模塊的MPO/MTP多芯連接器測(cè)試

工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò)：石油平臺(tái)防爆區(qū)/軌道交通車載系統(tǒng)的抗彎折光纖驗(yàn)證

特種光纖應(yīng)用：光子晶體光纖/保偏光纖的偏振特性分析

故障診斷維護(hù)：宏彎損耗/微裂紋/熔接缺陷的精準(zhǔn)定位（事件盲區(qū)≤1m）

檢測(cè)方法

標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)流程包含以下技術(shù)方法：

OTDR雙向平均法：按YD/T 3235-2017規(guī)范進(jìn)行雙向掃描消除菲涅爾反射誤差

光源-光功率計(jì)組合法：采用VFL可視故障定位器配合IL/RL一體化測(cè)試模塊

端面干涉測(cè)量法：使用400倍數(shù)字顯微鏡執(zhí)行端面曲率半徑/頂點(diǎn)偏移量分析

光譜分析法：通過(guò)OSA光譜儀測(cè)量DWDM系統(tǒng)的通道功率平坦度（±1.5dB）

機(jī)械可靠性試驗(yàn)：依據(jù)GR-326-CORE進(jìn)行插拔耐久性/溫循沖擊測(cè)試

檢測(cè)儀器

關(guān)鍵檢測(cè)設(shè)備技術(shù)要求如下：

光時(shí)域反射計(jì)（OTDR）：動(dòng)態(tài)范圍≥45dB@1550nm,事件盲區(qū)≤0.8m,支持CPRI/eCPRI協(xié)議解析

光損耗測(cè)試套件（OLTS）：波長(zhǎng)精度±0.5nm,功率線性度±0.03dB,內(nèi)置Tier1認(rèn)證功能

光纖端面檢測(cè)儀：500萬(wàn)像素CMOS傳感器,符合IEC 61300-3-35污染等級(jí)判定標(biāo)準(zhǔn)

光譜分析儀（OSA）：波長(zhǎng)范圍600-1700nm,分辨率帶寬0.02nm,支持C+L波段掃描

多參數(shù)測(cè)試平臺(tái)：集成PDL/CD/PMD測(cè)量模塊,滿足ITU-T G.650.1/G.657.A2標(biāo)準(zhǔn)要求

*所有儀器均需通過(guò)CNAS認(rèn)可的計(jì)量機(jī)構(gòu)年度校準(zhǔn),校準(zhǔn)溯源至NIST波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)參考源。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件