微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-04-29
關(guān)鍵詞:光纖測(cè)試儀試驗(yàn)儀器,光纖測(cè)試儀檢測(cè)方法,光纖測(cè)試儀檢測(cè)案例
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
光纖測(cè)試儀的核心檢測(cè)項(xiàng)目包括:
插入損耗測(cè)試:測(cè)量光信號(hào)通過(guò)連接器、熔接點(diǎn)或整段光纖的衰減值(dB),單模光纖要求≤0.3dB/連接點(diǎn)
回波損耗測(cè)試:評(píng)估反射信號(hào)強(qiáng)度(≥45dB為合格),采用APC端面需滿足≥60dB標(biāo)準(zhǔn)
長(zhǎng)度測(cè)量:基于光時(shí)域反射原理實(shí)現(xiàn)±1m精度定位
偏振相關(guān)損耗(PDL):高速光模塊鏈路要求PDL≤0.2dB
端面潔凈度檢測(cè):依據(jù)IEC 61300-3-35判定污染等級(jí)
光纖測(cè)試儀適用于以下場(chǎng)景的質(zhì)量驗(yàn)證:
通信網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng):FTTH接入網(wǎng)/5G前傳網(wǎng)/長(zhǎng)途干線網(wǎng)的光纖鏈路驗(yàn)收
數(shù)據(jù)中心互連:40G/100G/400G高速光模塊的MPO/MTP多芯連接器測(cè)試
工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò):石油平臺(tái)防爆區(qū)/軌道交通車載系統(tǒng)的抗彎折光纖驗(yàn)證
特種光纖應(yīng)用:光子晶體光纖/保偏光纖的偏振特性分析
故障診斷維護(hù):宏彎損耗/微裂紋/熔接缺陷的精準(zhǔn)定位(事件盲區(qū)≤1m)
標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)流程包含以下技術(shù)方法:
OTDR雙向平均法:按YD/T 3235-2017規(guī)范進(jìn)行雙向掃描消除菲涅爾反射誤差
光源-光功率計(jì)組合法:采用VFL可視故障定位器配合IL/RL一體化測(cè)試模塊
端面干涉測(cè)量法:使用400倍數(shù)字顯微鏡執(zhí)行端面曲率半徑/頂點(diǎn)偏移量分析
光譜分析法:通過(guò)OSA光譜儀測(cè)量DWDM系統(tǒng)的通道功率平坦度(±1.5dB)
機(jī)械可靠性試驗(yàn):依據(jù)GR-326-CORE進(jìn)行插拔耐久性/溫循沖擊測(cè)試
關(guān)鍵檢測(cè)設(shè)備技術(shù)要求如下:
光時(shí)域反射計(jì)(OTDR):動(dòng)態(tài)范圍≥45dB@1550nm,事件盲區(qū)≤0.8m,支持CPRI/eCPRI協(xié)議解析
光損耗測(cè)試套件(OLTS):波長(zhǎng)精度±0.5nm,功率線性度±0.03dB,內(nèi)置Tier1認(rèn)證功能
光纖端面檢測(cè)儀:500萬(wàn)像素CMOS傳感器,符合IEC 61300-3-35污染等級(jí)判定標(biāo)準(zhǔn)
光譜分析儀(OSA):波長(zhǎng)范圍600-1700nm,分辨率帶寬0.02nm,支持C+L波段掃描
多參數(shù)測(cè)試平臺(tái):集成PDL/CD/PMD測(cè)量模塊,滿足ITU-T G.650.1/G.657.A2標(biāo)準(zhǔn)要求
*所有儀器均需通過(guò)CNAS認(rèn)可的計(jì)量機(jī)構(gòu)年度校準(zhǔn),校準(zhǔn)溯源至NIST波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)參考源。
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件