微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-04-27
關(guān)鍵詞:信息設(shè)備3C安全項(xiàng)檢測(cè)報(bào)價(jià),信息設(shè)備3C安全試驗(yàn)儀器,信息設(shè)備3C安全檢測(cè)機(jī)構(gòu)
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
信息設(shè)備3C安全檢測(cè)包含四大核心模塊:
電氣安全測(cè)試
耐壓強(qiáng)度測(cè)試:驗(yàn)證絕緣材料在2500V AC/60s條件下的擊穿風(fēng)險(xiǎn)
泄漏電流測(cè)試:測(cè)量正常/故障狀態(tài)下對(duì)地泄漏電流值(≤3.5mA)
接地連續(xù)性測(cè)試:確認(rèn)保護(hù)接地阻抗≤0.1Ω(25A測(cè)試電流)
電磁兼容性測(cè)試
輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng):30MHz-6GHz頻段內(nèi)準(zhǔn)峰值≤40dBμV/m(3m法)
傳導(dǎo)騷擾電壓:150kHz-30MHz頻段內(nèi)QP值≤66-56dBμV
靜電放電抗擾度:接觸放電±8kV/空氣放電±15kV等級(jí)驗(yàn)證
環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試
高溫存儲(chǔ):70℃/48h后功能驗(yàn)證
低溫啟動(dòng):-20℃/4h冷啟動(dòng)試驗(yàn)
濕熱循環(huán):40℃/93%RH條件下240h耐候性評(píng)估
機(jī)械安全測(cè)試
結(jié)構(gòu)強(qiáng)度:施加50N力持續(xù)10s的穩(wěn)定性考核
開(kāi)孔防護(hù):直徑12mm探頭不可觸及危險(xiǎn)帶電部件
本檢測(cè)體系適用于以下類別信息設(shè)備:
計(jì)算機(jī)及相關(guān)設(shè)備
微型計(jì)算機(jī):臺(tái)式機(jī)/一體機(jī)/工作站
便攜式計(jì)算機(jī):筆記本/平板電腦
服務(wù)器:塔式/機(jī)架式/刀片式服務(wù)器
網(wǎng)絡(luò)通信設(shè)備
數(shù)據(jù)交換設(shè)備:路由器/交換機(jī)/網(wǎng)關(guān)
無(wú)線接入設(shè)備:WLAN AP/藍(lán)牙基站
光纖傳輸設(shè)備:光端機(jī)/ONU/OLT
終端顯示設(shè)備
顯示器:LCD/LED/OLED顯示屏(≥12英寸)
投影設(shè)備:DLP/LCD投影儀(亮度≥2000流明)
存儲(chǔ)處理設(shè)備
磁盤(pán)陣列:NAS/SAN存儲(chǔ)系統(tǒng)
固態(tài)存儲(chǔ):SSD/NVMe控制器模塊
電氣安全試驗(yàn)方法
依據(jù)GB/T 17626.2-2018標(biāo)準(zhǔn)搭建測(cè)試環(huán)境: 使用隔離變壓器供電系統(tǒng)(220V±2%),在溫度23±5℃、濕度45%-75%RH條件下, 通過(guò)可編程交流電源(Chroma 61505)施加額定電壓的110%持續(xù)4小時(shí), 采用Fluke 289真有效值萬(wàn)用表記錄關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)溫升數(shù)據(jù)。
輻射發(fā)射測(cè)試方法
在10m法半電波暗室中布置EUT: 受測(cè)設(shè)備距接收天線水平距離3m, 轉(zhuǎn)臺(tái)以6°/s速度旋轉(zhuǎn)360°, 使用R&S ESU40 EMI接收機(jī)掃描30MHz-6GHz頻段, 天線高度在1-4m范圍內(nèi)升降掃描, 記錄QP/AV值超過(guò)限值的頻點(diǎn)。
環(huán)境應(yīng)力篩選方法
采用Weiss SH-642恒溫恒濕箱執(zhí)行加速老化試驗(yàn): 以1℃/min速率升溫至70℃保持16h, 再以0.5℃/min降溫至-20℃保持8h, 完成10次循環(huán)后檢查外觀形變與功能異常。
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件