微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-04-24
關(guān)鍵詞:光纖激光打標(biāo)機(jī)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),光纖激光打標(biāo)機(jī)檢測(cè)機(jī)構(gòu),光纖激光打標(biāo)機(jī)試驗(yàn)儀器
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
光纖激光打標(biāo)機(jī)核心檢測(cè)項(xiàng)目包含六大類(lèi):
激光輸出特性:波長(zhǎng)穩(wěn)定性(1064±10nm)、功率波動(dòng)率(≤±3%)、光束質(zhì)量(M2≤1.3)
標(biāo)記性能:最小線(xiàn)寬(≤0.01mm)、重復(fù)定位精度(±0.002mm)、灰度階調(diào)表現(xiàn)
光學(xué)系統(tǒng):聚焦光斑直徑(20-70μm)、場(chǎng)鏡畸變率(≤0.1%)、振鏡掃描精度
電氣安全:接地電阻(≤0.1Ω)、絕緣阻抗(≥100MΩ)、電磁兼容性測(cè)試
環(huán)境適應(yīng)性:連續(xù)工作溫升(≤15℃)、濕度耐受(95%RH@40℃)、抗震動(dòng)等級(jí)
輔助系統(tǒng):冷卻效率(溫控精度±1℃)、軟件控制響應(yīng)時(shí)間(≤5ms)
本檢測(cè)體系適用于以下應(yīng)用場(chǎng)景:
材料類(lèi)型:金屬基材(不銹鋼/鋁合金/鈦合金)、高分子材料(ABS/PC/PET)、陶瓷基板、鍍層表面
加工形式:深雕(深度≥0.3mm)、淺雕、氧化層去除、彩色標(biāo)記等工藝類(lèi)型
設(shè)備規(guī)格:20W-100W功率段光纖激光器配置機(jī)型
行業(yè)應(yīng)用:醫(yī)療器械UDI標(biāo)識(shí)、電子元件二維碼雕刻、精密模具序列號(hào)標(biāo)記等工業(yè)場(chǎng)景
標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程包含以下關(guān)鍵步驟:
功率穩(wěn)定性測(cè)試:采用積分球式功率計(jì)連續(xù)采集120分鐘數(shù)據(jù),計(jì)算波動(dòng)系數(shù)
光束質(zhì)量分析:通過(guò)M2測(cè)量?jī)x記錄光束傳播因子,擬合束腰直徑與發(fā)散角參數(shù)
標(biāo)記精度驗(yàn)證:使用標(biāo)準(zhǔn)分辨率板進(jìn)行矢量圖形雕刻后,通過(guò)500倍測(cè)量顯微鏡進(jìn)行形位公差分析
環(huán)境試驗(yàn):在恒溫恒濕箱中模擬40℃/95%RH工況運(yùn)行8小時(shí),監(jiān)測(cè)冷卻系統(tǒng)效能衰減率
安全性能測(cè)試:采用接地電阻測(cè)試儀與耐壓測(cè)試儀分別進(jìn)行接觸阻抗和絕緣強(qiáng)度驗(yàn)證
軟件響應(yīng)測(cè)試:通過(guò)高速示波器捕捉控制信號(hào)與振鏡動(dòng)作的時(shí)間延遲量
完整檢測(cè)系統(tǒng)需配置以下正規(guī)設(shè)備:
激光參數(shù)測(cè)量:Ophir Nova II功率計(jì)、Primes Beam Profiler光束分析儀
幾何量計(jì)量:Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡、Renishaw XL-80激光干涉儀
電氣安全測(cè)試:Fluke 1587絕緣電阻測(cè)試儀、Chroma 19032耐壓測(cè)試儀
環(huán)境模擬設(shè)備:ESPEC PL-3KJS恒溫恒濕箱、LANSATOR振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
輔助儀器:Agilent DSOX3054T示波器、Testo 435-4多通道溫濕度記錄儀
所有檢測(cè)數(shù)據(jù)需按ISO/IEC 17025要求建立原始記錄檔案,關(guān)鍵參數(shù)應(yīng)進(jìn)行三次重復(fù)測(cè)量取中間值。異常數(shù)據(jù)需采用替代測(cè)量法復(fù)核確認(rèn)后形成最終檢測(cè)報(bào)告。
1、咨詢(xún):提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件