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中科光析科學技術研究所
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發(fā)布時間：2025-04-21
關鍵詞：氧化鎳熔點檢測機構,氧化鎳熔點檢測周期,氧化鎳熔點試驗儀器
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來源：北京中科光析科學技術研究所
因業(yè)務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。
本檢測主要針對氧化鎳（NiO）的相變溫度特征值進行系統(tǒng)測定，具體包括：
標準大氣壓下氧化鎳的初熔溫度與全熔溫度
不同升溫速率下的熔點偏移量記錄
材料在熔融過程中的熱焓變化曲線
雜質元素對熔點的影響系數(shù)測定
多晶型氧化鎳的相轉變溫度點確認
本檢測規(guī)程適用于以下類型樣品：
純度≥99.5%的高純氧化鎳粉末
化學氣相沉積法制備的氧化鎳薄膜
鋰離子電池正極材料前驅體中的摻雜氧化鎳
納米級氧化鎳顆粒（粒徑50-200nm）
工業(yè)級氧化鎳原料（純度98%-99.5%）
特殊形貌氧化鎳（介孔結構、核殼結構等）
依據(jù)GB/T 19466.3-2004標準執(zhí)行：將5±0.1mg試樣置于鋁制坩堝中，以10℃/min速率從室溫升至1500℃。采用高純α-Al?O?作為參比物，通過DSC曲線拐點確定外推起始溫度（Te）為熔點值。
依據(jù)ISO 21748:2017規(guī)范操作：將壓制成型試樣置于鉑金加熱臺，在氬氣保護下以5℃/min升溫。通過CCD成像系統(tǒng)實時觀測樣品形貌變化，以棱角開始圓化的溫度作為初熔點（Tm1），完全液化的溫度作為終熔點（Tm2）。
按ASTM E1131-20標準實施：采用α-Al?O?參比物體系，在靜態(tài)空氣氣氛下以20℃/min升溫至1600℃。通過DTA曲線的吸熱峰頂點溫度判定熔點值，同步TG數(shù)據(jù)用于排除分解反應的干擾。
| 設備類型 | 技術參數(shù) | 校準規(guī)范 |
|---|---|---|
| 同步熱分析儀 | 溫度范圍RT-1600℃ 靈敏度0.1μW 控溫精度±0.5℃ | 使用In、Sn、Au標準物質進行三點校正 每月驗證基線漂移量＜10μV |
| 高溫顯微鏡系統(tǒng) | 最高溫度1700℃ 光學分辨率1μm 氣氛控制精度±0.1%O? | 定期用標準熔點物質（K?CrO?,mp=968℃）驗證 每季度校準光學標尺誤差＜0.5% |
| 惰性氣體手套箱 | 氧含量＜1ppm 露點＜-70℃ 過渡艙凈化循環(huán)次數(shù)≥10次 | |
| 粉末壓片機 | 壓力范圍0-50MPa 壓頭直徑10mm 保壓時間可調0-300s |
萬分之一分析天平：量程200g，重復性±0.02mg
真空干燥箱：控溫精度±1℃，極限真空度≤10Pa
高純氣體凈化系統(tǒng)：氬氣純度≥99.999%，氧氣捕集器效率＞99.9%
金相試樣鑲嵌機：冷卻水循環(huán)溫差≤±2℃
實驗室溫度：23±2℃，濕度≤40%RH
電磁屏蔽等級：滿足EN 55011 Class A要求
振動控制：地面振幅＜5μm(10-100Hz)
電源質量：電壓波動≤±1%，諧波畸變率＜3%THD
DSC曲線采樣頻率≥10Hz
高溫影像記錄分辨率1920×1080@30fps
溫度數(shù)據(jù)記錄間隔≤0.5s/點
原始數(shù)據(jù)存儲格式符合ISO/IEC 17025:2017要求
1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件
