微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-04-21
關(guān)鍵詞:激光打標(biāo)機(jī)檢測(cè)范圍,激光打標(biāo)機(jī)檢測(cè)方法,激光打標(biāo)機(jī)試驗(yàn)儀器
瀏覽次數(shù):
來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見諒。
激光打標(biāo)機(jī)核心檢測(cè)項(xiàng)目包含六大技術(shù)維度:
激光參數(shù)驗(yàn)證:波長(1064nm/532nm/355nm)、峰值功率(kW級(jí))、平均功率(20W-100W)、光束質(zhì)量(M2≤1.3)、脈沖頻率(1kHz-200kHz)及脈寬(ns/ps級(jí))
打標(biāo)精度測(cè)試:線寬誤差(±5μm)、位置偏差(≤0.01mm)、重復(fù)定位精度(±0.005mm)、最小字符高度(0.2mm)
系統(tǒng)穩(wěn)定性評(píng)估:連續(xù)工作8小時(shí)功率波動(dòng)(≤±3%)、冷卻系統(tǒng)溫控精度(±0.5℃)、光路偏移量(≤0.02mm)
材料適應(yīng)性分析:金屬/非金屬基材對(duì)比度(≥80%)、熱影響區(qū)寬度(≤50μm)、深度一致性(±5μm)
安全防護(hù)檢查:防護(hù)罩透光率(<0.1%)、急停響應(yīng)時(shí)間(<0.5s)、輻射泄漏量(符合IEC 60825-1 Class 1)
環(huán)境耐受試驗(yàn):工作溫度(10-35℃)濕度(30-70%RH)下的性能穩(wěn)定性
材料類型 | 標(biāo)記形式 | 行業(yè)應(yīng)用 |
---|---|---|
不銹鋼/鋁合金 | 陽極氧化標(biāo)記 | 汽車零部件追溯 |
工程塑料 | 碳化發(fā)黑 | 電子元件標(biāo)識(shí) |
陶瓷基板 | 表面微蝕刻 | 半導(dǎo)體封裝 |
鍍層材料 | 涂層剝離 | 醫(yī)療器械編號(hào) |
玻璃制品 | 內(nèi)部微爆裂 | 光學(xué)器件溯源 |
激光功率測(cè)量:
光束質(zhì)量分析:
標(biāo)記精度驗(yàn)證:
熱影響區(qū)評(píng)估:
安全性能測(cè)試:
OPHIR Vega激光功率計(jì)
- 量程30mW-500W ±1.5%精度
- 配備水冷式吸收頭
- 支持CW/脈沖模式切換
Primes FocusMonitor光束分析儀
- CCD分辨率1920×1200
- M2測(cè)量誤差<3%
- 波長范圍190-1700nm
Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡
- 5000倍光學(xué)放大
- 景深合成功能
- 3D表面形貌重建
Tektronix DPO7254示波器
- 帶寬2.5GHz
- 采樣率40GS/s
- 脈沖時(shí)序分析功能模塊
Espec PL-3環(huán)境試驗(yàn)箱
- 溫控范圍-40℃~150℃
- 濕度控制10%~98%RH
- 帶振動(dòng)測(cè)試平臺(tái)接口
Spectral Products DK480單色儀
- 波長精度±0.05nm
- 1200g/mm光柵
- RS232通信接口控制模塊
CMM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(配備雷尼紹PH20探頭)
- XYZ軸精度(1.9+L/350)μm
- ∞位測(cè)頭定位系統(tǒng)
- MODUS測(cè)量軟件平臺(tái)
TRIOPTics BeamShade光斑分析系統(tǒng)
- ISO11146標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證
- CCD動(dòng)態(tài)范圍16bit
- M2值自動(dòng)計(jì)算功能模塊
- USB3.0高速數(shù)據(jù)傳輸接口
Ametek CTS氣候試驗(yàn)箱(定制型)
- IP66防護(hù)等級(jí)
- -70℃~180℃溫變測(cè)試能力
- IEC60068-2系列標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證
- PLC程序化控制界面
- RS485遠(yuǎn)程通訊接口
- ASTM B117鹽霧試驗(yàn)兼容功能模塊
Cascade Summit11000探針臺(tái)(定制配置)
- ±0.25μm定位精度
- XYZθ四軸聯(lián)動(dòng)控制
- SMU參數(shù)分析單元集成
- ANSI/ESD S20.20靜電防護(hù)認(rèn)證
Siemens LMS SCADAS數(shù)采系統(tǒng)(擴(kuò)展型)
-24位AD轉(zhuǎn)換精度
-204.8kHz采樣率
-64通道同步采集能力
-振動(dòng)/聲學(xué)/溫度多物理場(chǎng)耦合分析模塊
Tecnar DPV-2000激光診斷系統(tǒng)(正規(guī)版)
-等離子體光譜采集功能
-10ns時(shí)間分辨率
-SPARK光譜數(shù)據(jù)庫支持
Aerotech ABL1500空氣軸承運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(高配型)
-直線度誤差<±0.1μm/100mm
-重復(fù)定位精度±25nm
SENTECH SE3500橢偏儀(增強(qiáng)型)
-波長范圍250-1700nm
-膜厚測(cè)量分辨率0.1?
Creaform HandySCAN Black Elite三維掃描儀(工業(yè)級(jí))
-分辨率0.025mm
-16條交叉激光線掃描模式
Ametek JOFRA RTC-700B干體爐(高精度)
-溫度范圍-30~660℃
-穩(wěn)定性±0.01℃
Sartorius CPA225D電子天平(超精密)
-稱量范圍220g/0.01mg
Tektronix AFG31000任意波形發(fā)生器(高端型)
-1μHz~120MHz頻率范圍
Aglient N9020B頻譜分析儀(高性能)
-頻率范圍3Hz~26.5GHz
Siemens SINUMERIK MDynamics數(shù)控系統(tǒng)(開放架構(gòu))
-支持G代碼直接解析功能模塊
Cognex In-Sight D900視覺系統(tǒng)(智能型).patmax算法支持 -200萬像素CMOS傳感器 -PatFlex變形匹配技術(shù) -Ethernet/IP工業(yè)協(xié)議兼容 -VisionPro軟件開發(fā)套件集成 -GigE Vision接口擴(kuò)展能力 -M12工業(yè)連接器防護(hù)設(shè)計(jì) 支持ISO/IEC15415條碼驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn) 內(nèi)置OCR/OCV字符識(shí)別引擎 實(shí)時(shí)圖像處理速度>500fps 可編程LED環(huán)形光源控制接口 IP67防護(hù)等級(jí)認(rèn)證 支持Modbus TCP通信協(xié)議 內(nèi)置溫度補(bǔ)償算法模塊 帶振動(dòng)補(bǔ)償圖像穩(wěn)定功能 兼容GenICam標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議 具備深度學(xué)習(xí)缺陷分類功能模塊 支持Python腳本二次開發(fā) 帶3D點(diǎn)云處理擴(kuò)展接口 可存儲(chǔ)>10000組配方參數(shù) 具備自動(dòng)對(duì)焦功能模塊 帶多相機(jī)同步觸發(fā)接口 支持熱插拔更換鏡頭設(shè)計(jì) 具備遠(yuǎn)程診斷維護(hù)功能 帶防靜電涂層外殼設(shè)計(jì) 符合CE/FCC/ROHS認(rèn)證要求 內(nèi)置數(shù)據(jù)加密傳輸協(xié)議 支持OPC UA通信標(biāo)準(zhǔn) 具備邊緣計(jì)算能力擴(kuò)展槽位 帶工業(yè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘同步模塊 可記錄>10000小時(shí)運(yùn)行日志 具備自動(dòng)校準(zhǔn)提醒功能 帶觸摸屏人機(jī)交互界面 支持無線WiFi6連接方式 具備AI加速芯片擴(kuò)展接口 以上儀器配置滿足ISO/IEC17025實(shí)驗(yàn)室管理體系要求,所有設(shè)備均通過CNAS量值溯源認(rèn)證并定期進(jìn)行期間核查。關(guān)鍵計(jì)量器具的校準(zhǔn)周期不超過12個(gè)月,測(cè)量不確定度評(píng)估報(bào)告覆蓋全部檢測(cè)項(xiàng)目需求。
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件